本文檔提供了Keysight Technologies，Inc.E4981A電容計(jì)的規(guī)格和補(bǔ)充信息。所有規(guī)格適用于0°C至45°C溫度范圍內(nèi)的條件，除非另有說(shuō)明，并在儀器已打開(kāi)30分鐘后。

目錄

• 定義和規(guī)格

• 測(cè)量顯示范圍

• 可用測(cè)量范圍

• 可用測(cè)量范圍

• 可用測(cè)量范圍

• 環(huán)境溫度超過(guò)18～28°C范圍時(shí)的精度（典型值）

• 施加交流磁場(chǎng)時(shí)的精度

• 測(cè)量精度

• 補(bǔ)充資料

• 測(cè)量信號(hào)

• 測(cè)量時(shí)間

• 顯示時(shí)間

• 測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間

• 測(cè)量輔助功能

• 一般規(guī)格

• 電磁兼容、安全、環(huán)境和合規(guī)性

• 電磁兼容、安全、環(huán)境和合規(guī)性

• 測(cè)量精度的樣本計(jì)算

• 樣品

• 當(dāng)測(cè)量參數(shù)為Cp-D（或Cs-D）時(shí)

• 當(dāng)測(cè)量參數(shù)為Cp-Q（或Cs-Q）時(shí)

• 當(dāng)測(cè)量參數(shù)為Cp-G時(shí)

• 當(dāng)測(cè)量參數(shù)為Cp-Rp時(shí)

• 當(dāng)測(cè)量參數(shù)為Cs-Rs時(shí)

介紹

今天，元器件制造商需要更高的生產(chǎn)率和元器件產(chǎn)量，以便提供更低成本的產(chǎn)品，更快的交貨和更高的可靠性，以與非常激烈的競(jìng)爭(zhēng)競(jìng)爭(zhēng)。因此，大多數(shù)元器件生產(chǎn)商需要使用掃描儀進(jìn)行阻抗測(cè)試，以提高生產(chǎn)率和控制其產(chǎn)品的質(zhì)量。然而，使用掃描器進(jìn)行測(cè)量不同于使用普通測(cè)試夾具進(jìn)行測(cè)量。有必要減少由于延長(zhǎng)電纜和掃描儀中存在的殘余阻抗而產(chǎn)生的測(cè)量誤差。本應(yīng)用說(shuō)明描述如何采用使用LF LCR計(jì)和LF阻抗分析儀與掃描儀的測(cè)量系統(tǒng)，以及如何解決使用掃描系統(tǒng)時(shí)可能產(chǎn)生的殘余阻力相關(guān)的問(wèn)題。此外，本說(shuō)明涵蓋了實(shí)際的掃描系統(tǒng)實(shí)例，如電子元件的溫度特性評(píng)估和絕緣電阻測(cè)量。

設(shè)計(jì)掃描系統(tǒng)

本節(jié)首先介紹設(shè)計(jì)掃描系統(tǒng)的關(guān)鍵點(diǎn)，然后解釋系統(tǒng)

配置、特殊考慮因素，以及為處理這些問(wèn)題而設(shè)計(jì)的解決方案。

審查所需規(guī)格

掃描系統(tǒng)的示例如圖1所示。該掃描系統(tǒng)允許一臺(tái)測(cè)量?jī)x器通過(guò)切換到另一臺(tái)測(cè)量許多被測(cè)設(shè)備（DUT）。當(dāng)您設(shè)計(jì)掃描系統(tǒng)時(shí)，您必須選擇掃描器和電纜配置。為此，您應(yīng)澄清對(duì)系統(tǒng)的測(cè)量要求（規(guī)格）。要復(fù)核的規(guī)格包括測(cè)量精度、DUT的阻抗、測(cè)試頻率和掃描器通道的數(shù)目。所需的測(cè)量精度將決定掃描系統(tǒng)中允許的最大殘余阻抗和雜散電容。此外，測(cè)量值和測(cè)試頻率要求由電纜配置決定。通道數(shù)目決定您應(yīng)選擇的掃描器類型。

選擇電纜配置

掃描儀所使用的電纜配置取決于所要測(cè)量的阻抗值，如表1所示，有兩種電纜配置可供選擇:四端對(duì)（4TP）和屏蔽雙端（2T），使用4TP配置可在寬阻抗和頻率范圍內(nèi)達(dá)到最高精度，但由于每個(gè)測(cè)量通道需要許多電纜和開(kāi)關(guān)，因此硬件成本增加；另一方面，如果DUT的阻抗大于100歐姆，且測(cè)量頻率范圍高于100 kHz，則可以使用屏蔽2T配置，屏蔽2T配置可讓您以較低的系統(tǒng)成本擁有最大數(shù)量的測(cè)量通道。